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粉體阻抗測定系統(tǒng)

產(chǎn)品時間:2024-05-30

訪問次數(shù):1037

簡要描述:

商品名稱:
粉體阻抗測定系統(tǒng) MCP-PD51

特色:
﹢用於研究開發(fā)、品質(zhì)管理線,執(zhí)行粉體之物性管理
﹢與阻抗率計Loresta-GX,Hiresta-UX連接,以測定廣範圍之粉體之低阻抗、高阻抗
﹢樣品的交換、清掃簡單、可採一觸式著離探頭
﹢各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積
﹢測定及數(shù)據(jù)、備有達執(zhí)行圖形化之軟體以供選購
測定對象:金屬粉、碳粉類、陶磁粉…等

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商品名稱:

粉體阻抗測定系統(tǒng) MCP-PD51

特色:

﹢用於研究開發(fā)、品質(zhì)管理線,執(zhí)行粉體之物性管理
﹢與阻抗率計Loresta-GX,Hiresta-UX連接,以測定廣範圍之粉體之低阻抗、高阻抗
﹢樣品的交換、清掃簡單、可採一觸式著離探頭
﹢各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積
﹢測定及數(shù)據(jù)、備有達執(zhí)行圖形化之軟體以供選購

測定對象:金屬粉、碳粉類、陶磁粉…等導電性粉體
 

 

阻抗量測設(shè)備;阻抗計;阻抗率計;高阻計;低阻計;高阻抗計;低阻抗計;高阻抗率計;低阻抗率計;Resistivity meter;抵抗率計;阻抗分析儀;表面阻抗計;桌上型低阻抗率計;手持式阻抗率計;四點探針;半導體系列;

 


高精確阻抗率計檢測法


前言
科技快速進步,電子半導體的開發(fā)及應(yīng)用,往往會應(yīng)產(chǎn)品的需求而相對提高成品組合間的品質(zhì),如:阻抗、阻抗率。目前在半導體業(yè)間常需要此阻抗、阻抗率的數(shù)據(jù)來了解其相互之間問題。由於以傳統(tǒng)的方式來測量需要耗費人力、物力及時間去套入公式以求得結(jié)果,造成檢測中一大困擾,因此,日東精工分析科技便研發(fā)了更方便的測量儀器來解決,不用再計算繁瑣的公式了。符合了國際間的ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194、JIS R 1637。


1-1 概念
Resistance阻抗:阻抗被用於不同狀態(tài)和物質(zhì)性質(zhì),是做阻抗是隨物質(zhì)形狀、大小、測定位置不同而變化。
Resistivity阻抗率:阻抗率乃為阻抗(Ω)乘以阻抗率校正因數(shù)(RCF)而來,通常,它要經(jīng)過一番努力煩瑣的計算出校正因數(shù)後,才能換算得知。而日東精工微電腦阻抗率計能於短時間內(nèi)輕易的精確處理出物質(zhì)阻抗率。
阻抗:測值會隨條件變化的。
阻抗率:是對絕對值,對每個物質(zhì)來說它只有一個測值。
例:測量黃金時

Resistance(Ω)
2.4× 10-8 Ω big< 2.4× 10-6 Ω bigger< 2.4× 10-2 Ω

Resistivity(Ωcm)
2.4× 10-6 Ωcm changeNo.= 2.4× 10-6 Ωcm changeNo.= 2.4× 10-6 Ωcm

“Ω”or“Ωcm”- which will you use for evaluating materials?

“Resistivity” is a simple index for classifying all the materials in the world.

 

1-2 阻抗(Resistance)和阻抗率計(Resistivity)之間的關(guān)係


~關(guān)鍵在阻抗率校正因數(shù)(RCF) ~
♦ Resistance阻抗(R),阻抗=電阻
當一個電流(I)流穿一物質(zhì),其電的阻抗乃緣由入口與出口間有一電位差(V)造成,故以公式表此關(guān)係即歐姆定律(Ohm’s law)。
阻抗R(Ω)=V[V]/I[A]


♦ Volume Resistivity體積阻抗率(ρν),阻抗率=電阻係數(shù)
表示物質(zhì)每單位體積之阻抗。
“體積阻抗率”也叫做”特殊阻抗Specific Resistance”或”阻抗率”
“體積阻抗率”是大部分利用於物質(zhì)方面之用詞;
“特殊阻抗”是共通於電學方之用詞;
“阻抗率”常被用在物理學方面之用詞。
體積阻抗率 ρν [Ωcm] =R [Ω] × RCF× t
此單位“Ωcm”讀為“厘米歐姆”每一物質(zhì)為有一單一特性值為體積阻抗率。

※Condductivity電導率(σ)
電導率是體積阻抗率的相反,它又被叫“電的電導率”或“電導係數(shù)”。
電導率 σ [ /cm ]=1/ρν,此單位是“S/cm”讀做每厘米西門子。


♦ Surface Resistivity表面阻抗率(ρs)

表示物質(zhì)每單位表之阻抗。
“表面阻抗率”也叫做“單張阻抗”其單位為“Ω”。然而為了要和阻抗(Resistance)區(qū)分,所以被寫為“Ω/□”或“Ω/sq”讀為“每歐姆平方”。
表面阻抗率因材質(zhì)厚度不同而變化,所以通常被利用於塗裝或薄膜方面,相反的,它可被利用於厚度的判斷指標。
表面阻抗率 ρ[ Ω/sq ] = R[ Ω ] × RCF = ρν× 1/t

♦ Resistivity Correction Factor阻抗率校正因數(shù)(RCF)
通常以金屬電極(4針探頭)固定於樣品表面以測得阻抗。
阻抗乘以阻抗率因素而計算出體積阻抗率及表面阻抗率。 阻抗因數(shù)是依電極之形號、尺寸、內(nèi)針距離或樣品之形狀、尺寸,測定位置而被確定求出。
利用Poisson’s方程式可精確的求出於電磁學的確定電位。

1-3 阻抗率之計算 [傳統(tǒng)方法]
~阻抗率是物質(zhì)之絕對值~

Resistance R(Ω)= V[V]/I[A]
Volume Resistivity ρ[Ωcm]=R [Ω] ×W/1× t
Surface Resistivity ρs [Ω/sq]=R [Ω] ×W/1=ρν×1/t

 

 

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